Technische Daten des KFM Konfokalmikroskops
	Messprinzip	Flächenhafte konfokale Detektion mittels rotierender Nipkowscheibe. Aufgrund der tiefendiskriminierenden Wirkung des konfokalen Strahlengangs gelangen nur Bildteile in unmittelbarer Umgebung des Fokus zur Abbildung und Auswertung. Ein spezieller authentic peak detection Algorithmus extrahiert aus den Bilddaten sowohl die Profilhöhe als auch ein omnifokales Oberflächenbild.
	Ausführung	Integrierte Steuerelektronik für Sensor und Objektivversteller. Anschlüsse für Tischnetzteil, FireWire und RS232 an der Sensoroberseite.
	Mikroskop	Integrierte Hellfeld-Auflichtbeleuchtung mit motorisierter Umschaltung auf konfokalen Strahlengang. Das Bildfeld hängt vom verwendeten Objektiv ab.
	Kamera	FireWire-Kamera mit 780 x 580 pixel, bis 48 Bilder/s
	Beleuchtung	Integrierte grün-blaue Hochleistungs-LED (505nm)
	Messbereich	400µm Softwareoption für Messbereichserweiterung über externen Versteller
	Objektive	10x 20x 40x 50x 100x numerische Apertur 0.50 0.75 0.95 0.80 0.90 Arbeitsabstand (mm) 1.0 1.0 0.14 1.0 1.0 Bildfeld (µm x µm) 1920x1440 960x720 480x360 384x288 192x144 Auflösung 1 lateral (µm) 2.46 1.23 0.62 0.492/0.39 0.246/0.34 Auflösung 2 axial (µm) 0.01 0.003 0.002 0.002 0.001
	Gewicht	c.a. 5kg
	Abmessungen	ca. 394x140x100mm ohne Objektiv und Piezoversteller ca. 464x140x100mm komplett
	Systemeinbindung	FireWire, RS232. DLL zur Intergration in OEM-Software verfügbar.
	Softwareunterstützung	vollständige Einbindung in Mess- und Auswertesoftware Inspector, automatisierbar
	Optionen	motorisierte Z-Achse. motorisierte X/Y-Achse. Software für Bildfeldzusammenführung (Panoramabilder). Software für Interferometriemodus. Farb/Megapixelkamera.
		1 geometrisch/optisch 2 flächenhafter Ra-Wert bzw. flächenhafte Standardabweichung,
		Produktdatenblatt (1.2MB, pdf)
		Anwenderhandbuch (880kB, pdf)
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