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Anwendungsbeispiele:
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Fotodioden
auf Kamerachip
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Mikrolinsen-
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Chromstruktur auf
Walzenoberfläche
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Zahnoberfläche
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Das Konfokalmikroskop KFM ist der ideale Sensor zur
sekundenschnellen berührungslosen Messung mikroskopischer Oberflächen. Kleinste Details
werden bis zum physikalischen Limit zuverlässig erfasst. Eine breite Palette an ausgesuchten
Objektiven höchster Qualität rundet das Einsatzspektrum ab. Das flächenhafte Messverfahren
erfasst gleichzeitig die Oberflächentopografie und ein omnifokales Helligkeitsbild.
Flächenhafte konfokale Detektion mittels rotierender Nipkowscheibe. Bedingt durch die
tiefendiskriminierende Wirkung des konfokalen Strahlengangs gelangen nur Bildteile in
unmittelbarer Umgebung des Fokus zur Abbildung und Auswertung (Details).
Ein spezieller authentic peak detection Algorithmus bestimmt aus den Bilddaten sowohl
die Profilhöhe als auch ein omnifokales Oberflächenbild.
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- Mikroskopbasierte Technologie zur Erfassung kleinster Details bis ans physikalische Limit
- Flächenhaftes Messverfahren für sekundenschnelle Ergebnisse
- Wartungsfrei und langlebig durch LED-Technologie
- Dynamikumfang deutlich größer wie bei interferometrischen Verfahren
- Umfangreiches Sortiment an ausgesuchten Objektiven höchster Qualität verfügbar
- Geringe Leistungsaufnahme
- In OEM-Aufbauten integrierbar
- Messung von Topografie, Höhe, Form, Position.
- Bestimmung abgeleiteter Größen wie Rauheit, Fläche oder Volumen.
- Visualisierung durch parallele Erfassung des omnifokalen Oberflächenbildes.
- Halbleiterbereich, Elektronik, Elektrotechnik
- Optik, Materialforschung, Maschinenbau
- Medizintechnik
- Messungen an hochempfindlichen, weichen oder flüssigen Medien
- Messungen an optisch anspruchsvollen Messobjekten
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